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Q2 ION直讀光譜儀 Bruker技術(shù)優(yōu)勢及特點：

Q2 ION直讀光譜儀 Bruker突破了傳統(tǒng)光譜儀的設(shè)計理念，改變了傳統(tǒng)光譜笨重粗大的外觀，顯得非常靈巧。儀器體積大約相當于一臺激光打印機，重量在19公斤左右。除了在實驗室應用外，也便于攜帶到野外，車間等場所進行現(xiàn)場分析。Bruker Q2 ION是非常小，最輕的緊湊型金屬材料分析光譜儀。該儀器可配置為多基體系統(tǒng)，可用于復雜金屬合金材料的來料檢驗和質(zhì)量控制。其實惠的價格，較低的操作成本，使其成為中小型企業(yè)的理想的分析儀器。Q2 ION 涵蓋了鐵，鋼，鋁，銅，黃銅，青銅等金屬材料中所有主要元素。對于中小型鑄造企業(yè)，金屬加工，制造行業(yè)，質(zhì)量控制部門，金屬回收甚至檢測機構(gòu)來說是很理想的分析儀器。除了傳統(tǒng)的分析檢測功能，Q2 ION可以用來進行材料識別（PMI），尤其在金屬材料的來料檢驗和質(zhì)量控制過程中材料分析有著很大的用途。

? 光學系統(tǒng)：

由于Q2的體積相比傳統(tǒng)光譜儀要小很多，為了不造成儀器性能和精度的損失，Q2在光學設(shè)計上摒棄了傳統(tǒng)的羅蘭圓結(jié)構(gòu)，而是采用了最新的平面視場CCD光學系統(tǒng)，由于采用的是平面光柵，所以經(jīng)色散作用后,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測器上，其優(yōu)點是檢測器的每個像素點都得以充分的利用，通過軟件處理和數(shù)學解析過程，從而獲取最清晰的分析譜圖。為了保證光學分析率，光學系統(tǒng)采用了三光路設(shè)計，第一光路為紫外光路，波長覆蓋范圍為170-294nm，主要用于P、S等紫外元素的分析；第二光路為可見光光路，波長覆蓋范圍為293-411nm,主要用于分析從Mn到Nb等的常規(guī)元素，第三光路為校正光路，波長范圍568nm以上，安裝有氖燈，主要用于像素校正。

? 動態(tài)溫度補償技術(shù)（AAC）：

對于傳統(tǒng)光譜儀而言，為了保證儀器的穩(wěn)定性，通常需要專門的恒溫系統(tǒng)，以保證光譜儀內(nèi)部的穩(wěn)定恒定。因為外界溫度的變化，將會造成光室內(nèi)部精密結(jié)構(gòu)相對位置的改變，從而影響檢測器信號接收的穩(wěn)定性，造成儀器的分析數(shù)據(jù)的波動。對于Q2而言，如果設(shè)計專門的恒溫系統(tǒng)，意味著結(jié)構(gòu)重量的大大增加。為此，Q2采用了動態(tài)溫度補償技術(shù)，該技術(shù)基于特殊的材料科學，在同等的外界溫度變化下，能夠有效地補償因熱脹冷縮造成的光室焦距變化，從而確保在一定溫度變化范圍內(nèi)光室內(nèi)精密部件相對位置的恒定。實驗證明，在10° 至 45° C的溫度范圍內(nèi)，AAC技術(shù)能夠有效地維持儀器的穩(wěn)定性。

? 非鍍膜CCD檢測器

CCD傳感器是一種新型光電轉(zhuǎn)換器件，它使用一種高感光度的半導體材料制成，并作為一種新型檢測器被廣泛應用于直讀光譜技術(shù)中，但由于紫外光在多晶硅中穿透深度很小，因此通常來說CCD對于紫外波段的響應非常弱，為了分析P,S等紫外元素，需要在CCD上鍍上專門的變頻膜，然而變頻膜的壽命又成為了制約儀器性能的重要因素。為此，Q2了采用全波段CCD檢測器，無需鍍膜即可實現(xiàn)對于紫外波段的響應，從而克服了鍍膜的不利影響。

? 免維護火花臺

考慮到除了面對實驗室環(huán)境外，還可能應對較為復雜嚴苛的野外作業(yè)環(huán)境，Q2專門設(shè)計了整體式免維護火花臺技術(shù)，避免了傳統(tǒng)光譜儀需要頻繁清潔火花臺和入射透鏡的情況。經(jīng)優(yōu)化設(shè)計的氬氣流在每次激發(fā)過后，均會吹掃入射窗口和激發(fā)電極，并將殘余粉塵帶至尾氣收集管中，從而實現(xiàn)火花臺的自清潔功能。